Mapping the positions of Two-Level-Systems on the surface of a superconducting transmon qubit
Die Studie stellt eine Methode vor, mit der sich die individuellen Positionen von Zwei-Niveau-Systemen auf der Oberfläche eines supraleitenden Transmon-Qubits durch lokale elektrische Felder bestimmen lassen, wobei sich herausstellte, dass die meisten dieser Defekte trotz geringerer elektrischer Feldenergie auf den Josephson-Kontakt-Leads lokalisiert sind, was auf eine erhöhte Defektdichte durch Lift-off-Verfahren hinweist.