Fresnel diffraction imaging of surface nanostructure using coherent resonant X-ray scattering
Este artículo elucida el mecanismo de imagen de la imagenología de rayos X coherente directa (direct-CXI) en nanoestructuras superficiales de MnBiTe al demostrar que las imágenes observadas en el espacio real se explican con precisión mediante la difracción de Fresnel, confirmando así la capacidad de la técnica para capturar información de fase sin algoritmos de recuperación complejos.