Key Distance Effects in a Controlled Synthetic Rubric-Routing Unit Test for Small Character-Level Transformers
Este estudio demuestra que, en entornos sintéticos controlados, la distancia superficial entre campos clave impacta significativamente la precisión de enrutamiento de los Transformers pequeños a nivel de carácter, validando el uso de tales pruebas unitarias para distinguir entre mecanismos de búsqueda genuinos y la explotación de claves superficiales antes de desplegar sistemas educativos automatizados.