Mortality of ultra-thin LGADs and PiN diodes from high energy deposition
Este estudio evalúa la mortalidad de diodos LGAD ultrafinos y PiN tras ser pre-irradiados y sometidos a haces de protones e iones pesados, identificando diversas categorías de daño eléctrico y mecánico para comprender y mitigar mecanismos como la destrucción por evento único en entornos de alta radiación.