Simultaneous SI-traceable measurement of the amplitude and the ellipticity of microwave fields with cold Rydberg atoms
Este artículo presenta un método trazable al SI mediante la espectroscopia de pérdida de trampa de átomos de Rydberg fríos para medir simultáneamente la amplitud y la elipticidad del campo de microondas con una precisión de aproximadamente el 1%, extrayendo además el ángulo de llegada del campo.