AI-Driven Scan-to-Discovery in 20 Minutes: Automated Segmentation of Synchrotron Micro-CT at Scale
Este artículo presenta un flujo de trabajo de HPC automatizado e impulsado por IA que integra la reconstrucción tomográfica distribuida con modelos fundacionales de ensamble (SAM3 y DINOv3-Seg) para lograr una segmentación de escaneo a descubrimiento de casi tiempo real de 20 minutos de datos de micro-CT de sincrotrón, demostrado a través del análisis de las estructuras de xilema de la vid.