Electrothermal behavior of superconducting nanowires buried in a commercial CMOS process
Este artículo investiga el comportamiento electrotérmico de los nanocables de nitruro de titanio enterrados dentro de un proceso comercial CMOS FD-SOI de 22 nm, revelando que sus corrientes de reatrapamiento están gobernadas por un modelo de enfriamiento de dos canales que combina la emisión de fonones interfaciales y la conducción longitudinal, con un coeficiente de enfriamiento efectivo significativamente inferior a las predicciones teóricas para interfaces limpias.