Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Los autores presentan un microscopio magnético de diamante con centros NV de campo amplio y criogénico que permite la caracterización rápida y a escala micrométrica del atrapamiento de flujo en dispositivos superconductores, revelando dinámicas de expulsión de vórtices influenciadas por defectos de la película que son cruciales para mejorar la fiabilidad de la electrónica superconductora escalable.
Rohan T. Kapur, Pauli Kehayias, Sergey K. Tolpygo, Adam A. Libson, George Haldeman, Collin N. Muniz, Alex Wynn, Nathaniel J. O'Connor, Neel A. Parmar, Ryan Johnson, Andrew C. Maccabe, John Cummings, Justin L. Mallek, Danielle A. Braje, Jennifer M. SchlossTue, 10 Ma⚛️ quant-ph