Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Cet article présente un microscope à large champ basé sur des centres NV dans le diamant fonctionnant à basse température, capable d'imager rapidement les pièges de flux magnétique dans les dispositifs électroniques supraconducteurs et de révéler des mécanismes d'expulsion des vortex dépendant de la géométrie pour améliorer la fiabilité de ces technologies.
Rohan T. Kapur, Pauli Kehayias, Sergey K. Tolpygo, Adam A. Libson, George Haldeman, Collin N. Muniz, Alex Wynn, Nathaniel J. O'Connor, Neel A. Parmar, Ryan Johnson, Andrew C. Maccabe, John Cummings, J (…)2026-03-10⚛️ quant-ph