Resolution Enhancement of Scanning Electron Micrographs using Artificial Intelligence
यह शोध पत्र प्रदर्शित करता है कि एक डीप लर्निंग-आधारित सुपर-रिज़ॉल्यूशन एल्गोरिदम स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोग्राफ के रिज़ॉल्यूशन को चार गुना तक प्रभावी ढंग से बढ़ा सकता है, जिससे स्टील सामग्री पर मानक इंटरपोलेशन विधियों से बेहतर प्रदर्शन करते हुए इमेजिंग समय और नमूना क्षरण में काफी कमी आती है।