Field-Driven Hybrid Filament Formation Governs Switching in Ta-HfO-Pt Memristors
यह अध्ययन डायनेमिक चार्ज ट्रांसफर के साथ मॉलिक्यूलर डायनेमिक्स सिमुलेशन का उपयोग करके यह प्रकट करता है कि Ta/HfO/Pt मेमरिस्टर में स्विचिंग, Ta धनायनों (cations) और ऑक्सीजन रिक्तियों (oxygen vacancies) से बने हाइब्रिड फिलामेंट्स के क्षेत्र-चालित (field-driven) निर्माण द्वारा नियंत्रित होती है, जो यह प्रदर्शित करता है कि कैसे प्रारंभिक दोष विन्यास (defect configurations) फिलामेंट की आकृति विज्ञान (morphology) को निर्धारित करते हैं और डिवाइस की परिवर्तनशीलता को कम करने के लिए एक सुदृढ़ ढांचा प्रदान करते हैं।