Soft X-ray Reflection Ptychography
यह शोध पत्र बल्क या विस्तारित नमूनों पर लगभग 45 नैनोमीटर स्थानिक रिज़ॉल्यूशन प्राप्त करने में सक्षम रिफ्लेक्शन ज्योमेट्री सॉफ्ट एक्स-रे प्टाइकोग्राफी की एक गैर-विनाशकारी इमेजिंग तकनीक के रूप में व्यवहार्यता और मजबूती को प्रदर्शित करता है, जिससे पारंपरिक ट्रांसमिशन-आधारित विधियों में निहित नमूना मोटाई की सीमाओं को दूर किया जा सकता है।