On-chip probabilistic inference for charged-particle tracking at the sensor edge
यह शोध पत्र सिलिकॉन कण डिटेक्टरों के फ्रंट-एंड इलेक्ट्रॉनिक्स पर न्यूरल नेटवर्क के सफल कार्यान्वयन को प्रदर्शित करता है ताकि आवेशित-कण गतिविज्ञान (charged-particle kinematics) का वास्तविक समय में संभाव्य अनुमान (probabilistic inference) लगाया जा सके, जिससे बैंडविड्थ, विलंबता (latency) और शक्ति के कड़े प्रतिबंधों के तहत सेंसर एज पर इंटेलिजेंट डेटा चयन सक्षम हो सके।