White-Light Spectral Interferometry for Thin-Film Thickness and Group-Index Dispersion Metrology
यह शोध पत्र व्हाइट-लाइट स्पेक्ट्रल इंटरफेरोमेट्री के लिए एक एकीकृत सैद्धांतिक और सिमुलेशन फ्रेमवर्क प्रस्तुत करता है जो एकल फाइबर-ऑप्टिक स्पेक्ट्रोमीटर सेटअप का उपयोग करके पतली फिल्म की मोटाई (±0.2 nm सटीकता के साथ) और ग्रुप-रिफ्रैक्टिव-इंडेक्स डिस्पर्शन के उच्च-परिशुद्धता, स्कैन-मुक्त मापन को सक्षम बनाता है।