Circuit-Level vs Pulse-Level Quantum Hardware Diagnostics: K–R Scaling Exponent Detects Device Degradation Invisible to T₁/T₂ Calibration
यह शोध पत्र प्रदर्शित करता है कि K–R स्केलिंग एक्सपोनेंट का उपयोग करने वाले सर्किट-स्तरीय डायग्नोस्टिक्स महत्वपूर्ण डिवाइस डिग्रेडेशन का पता लगा सकते हैं और उन एल्गोरिदम विफलताओं की भविष्यवाणी कर सकते हैं जो मानक पल्स-स्तरीय T₁/T₂ कोहेरेंस मेट्रिक्स के लिए अदृश्य रहती हैं, जैसा कि एक मामले से प्रमाणित होता है जहाँ रिपोर्ट किए गए T₂ सुधारों का IBM Heron प्रोसेसर पर सर्किट त्रुटि में 920% की वृद्धि के साथ सह-अस्तित्व था।