SemiConLens: Visual Analytics for 2D Semiconductor Discovery
SemiConLens è un sistema di analisi visiva che integra un nuovo metodo di imputazione multivariata consapevole delle correlazioni (CAMI) con visualizzazioni interattive per superare le sfide legate alla scarsità e all'affidabilità dei dati, consentendo così ai ricercatori sui materiali di scoprire e valutare efficacemente candidati promettenti per semiconduttori bidimensionali.