Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps
Questo articolo introduce una tecnica di spettromicroscopia confocale non in linea di vista per rivelare che le pareti laterali delle micropipe in SiC agiscono come trappole giganti anfotere con elevate densità di stati di livello profondo, che dominano la ricombinazione dei portatori e facilitano le correnti di dispersione attraverso il trasporto assistito da trappole.