Comparison of Two-Level System Microwave Losses in Pure Bulk Microcrystalline Nb2O5 and NbO2 Oxide Samples
この論文は、超伝導量子デバイスにおける二準位系(TLS)の損失を低減する材料戦略として、ニオブ酸化物の微結晶粉末を用いた測定により、TLS 損失が顕著に観測される Nb2O5 と検出されない NbO2 を比較し、実用的なニオブ空洞において高品質な微結晶 NbO2 が支配的であれば損失低減が期待できることを示しています。