Structured generalized sliced Wasserstein distance for keV X-ray polarization analysis with Gas Pixel Detector
本論文では、ケV 領域の X 線偏光観測において、従来の角度抽出統計法では困難な広視野入射角の解析を可能にするため、ランダム重みを持つニューラルネットワークを用いて二次元偏光画像の構造を捉える「構造化一般化スライス・ワッセルシュタイン距離」という完全データ駆動型の手法を提案し、その有効性を示しています。