原著者:SuperCDMS Collaboration, M. F. Albakry, I. Alkhatib, D. Alonso-González, J. Anczarski, T. Aralis, T. Aramaki, I. Ataee Langroudy, C. Bathurst, R. Bhattacharyya, A. J. Biffl, P. L. Brink, M. BuchananSuperCDMS Collaboration, M. F. Albakry, I. Alkhatib, D. Alonso-González, J. Anczarski, T. Aralis, T. Aramaki, I. Ataee Langroudy, C. Bathurst, R. Bhattacharyya, A. J. Biffl, P. L. Brink, M. Buchanan, R. Bunker, B. Cabrera, R. Calkins, R. A. Cameron, C. Cartaro, D. G. Cerdeño, Y. -Y. Chang, M. Chaudhuri, J. -H. Chen, R. Chen, N. Chott, J. Cooley, H. Coombes, P. Cushman, R. Cyna, S. Das, S. Dharani, M. L. di Vacri, M. D. Diamond, M. Elwan, S. Fallows, E. Fascione, E. Figueroa-Feliciano, S. L. Franzen, A. Gevorgian, M. Ghaith, G. Godden, J. Golatkar, S. R. Golwala, R. Gualtieri, J. Hall, S. A. S. Harms, C. Hays, B. A. Hines, Z. Hong, L. Hsu, M. E. Huber, V. Iyer, V. K. S. Kashyap, S. T. D. Keller, M. H. Kelsey, K. T. Kennard, Z. Kromer, A. Kubik, N. A. Kurinsky, M. Lee, J. Leyva, B. Lichtenberg, J. Liu, Y. Liu, E. Lopez Asamar, P. Lukens, R. López Noé, D. B. MacFarlane, R. Mahapatra, J. S. Mammo, N. Mast, A. J. Mayer, P. C. McNamara, H. Meyer zu Theenhausen, É. Michaud, E. Michielin, K. Mickelson, N. Mirabolfathi, M. Mirzakhani, B. Mohanty, D. Mondal, D. Monteiro, J. Nelson, H. Neog, V. Novati, J. L. Orrell, M. D. Osborne, S. M. Oser, L. Pandey, S. Pandey, R. Partridge, P. K. Patel, D. S. Pedreros, W. Peng, W. L. Perry, R. Podviianiuk, M. Potts, S. S. Poudel, A. Pradeep, M. Pyle, W. Rau, R. Ren, T. Reynolds, M. Rios, A. Roberts, A. E. Robinson, L. Rosado Del Rio, J. L. Ryan, T. Saab, D. Sadek, B. Sadoulet, S. P. Sahoo, I. Saikia, S. Salehi, J. Sander, B. Sandoval, A. Sattari, B. Schmidt, R. W. Schnee, B. Serfass, A. E. Sharbaugh, R. S. Shenoy, A. Simchony, P. Sinervo, Z. J. Smith, R. Soni, K. Stifter, J. Street, M. Stukel, H. Sun, E. Tanner, N. Tenpas, D. Toback, A. N. Villano, J. Viol, B. von Krosigk, Y. Wang, O. Wen, Z. Williams, M. J. Wilson, J. Winchell, S. Yellin, B. A. Young, B. Zatschler, S. Zatschler, A. Zaytsev, E. Zhang, L. Zheng, A. Zuniga, M. J. Zurowski
未解決の課題: 依然として、数百 eV 以下の低エネルギー領域で未知の起源を持つイベント率の上昇(Low-Energy Excess, LEE)が観測されています。本研究では高電圧印加により NTL 効果で信号を高エネルギー側へシフトさせることで LEE の影響を最小化しましたが、背景モデルの確立とさらなる低減が今後の課題です。