Island Interface Porosity in PBF-LB 316L: Effects of Island Overlap and Interlayer Shift in Chessboard Scanning
본 연구는 체스판 스캔 방식의 PBF-LB 316L에서 층간 이동(interlayer shift) 단독으로는 기공률에 미치는 영향이 제한적인 반면, 아일랜드 중첩(island overlap)을 증가시키면 미융합 결함이 유의미하게 감소하며, 135% 중첩과 1mm 층간 이동의 조합이 0.10%라는 가장 낮은 평균 기공률을 달성함을 입증한다.