Probing Dielectric Screening in van der Waals Heterostructures via Pressure-Tuned Exciton Rydberg Series
Dit artikel stelt een methodologie voor om de drukafhankelijke diëlektrische constante van hexagonaal boornitride direct te meten door de door druk veroorzaakte verschuivingen in de exciton-Rydbergreeks van ingekapselde monolaag WSe binnen een van der Waals-heterostructuur te analyseren.