Quasiparticle spectroscopy in tantalum films with different Ta/sapphire interfaces
Dit onderzoek presenteert een niet-destructieve frequentiedomein-spectroscopie voor het detecteren van lage-energie-excitaties, zoals twee-niveausystemen en Yu-Shiba-Rusinov-toestanden, in Ta/sapphire-films die correleren met lagere interne kwaliteitsfactoren en zo bijdragen aan het begrijpen van dissipatiemechanismen in supergeleidende circuits.