Dynamical diffraction formalism for imaging time-dependent diffuse scattering from coherent phonons with Dark-Field X-ray Microscopy
Dit artikel introduceert een formalisme voor dynamische diffractie dat het mogelijk maakt om met Dark-Field X-ray Microscopy de afname van coherente fononen in bulk kristallijne materialen kwantitatief en frequentie-opgelost te bestuderen via tijdsafhankelijke intensiteitsoscillaties, waardoor de beperkingen van eerdere kinematische benaderingen worden overwonnen.