A Normalized Descriptor for Unbiased Screening of Second-Order Nonlinear Optical Materials
Deze paper introduceert en valideert een genormaliseerde descriptor, , die de tweede-orde niet-lineaire optische respons van materialen relativeert aan hun bandklopgrens, waardoor een universeel en onbevooroordeeld hulpmiddel ontstaat voor het versnellen van de ontdekking en optimalisatie van dergelijke materialen via datagedreven modellen.