In-situ operation of amorphous circuits under heavy-ion irradiation
Deze studie demonstreert de robuuste in-situ werking van een amorf dunfilm-halfgeleidercircuit met 100 transistoren onder zware ionenbestraling, waarbij succesvol een "Hello World"-outputsequentie werd uitgevoerd bij hoge deeltjesfluxen, waarmee een nieuwe mijlpaal is gevestigd voor stralingsbestendige digitale elektronica in extreme omgevingen.