An Integrated Failure and Threat Mode and Effect Analysis (FTMEA) Framework with Quantified Cross-Domain Correlation Factors for Automotive Semiconductors
Dit artikel introduceert een geïntegreerd FTMEA-raamwerk voor automotive halfgeleiders dat functionele veiligheid en cyberbeveiliging systematisch combineert door middel van kwantitatieve cross-domein correlatiefactoren, waardoor een nauwkeurigere risicoprioritering en effectievere mitigatiestrategieën mogelijk worden.