Simultaneous SI-traceable measurement of the amplitude and the ellipticity of microwave fields with cold Rydberg atoms
Dit artikel presenteert een SI-traceerbare methode met behulp van trap-loss spectroscopie van koude Rydberg-atomen om simultaan de amplitude en ellipticiteit van een microgolfveld te meten met een nauwkeurigheid van ongeveer 1%, terwijl ook de aankomsthoek van het veld wordt geëxtraheerd.