High-Resolution Atomic Magnetometer-Based Imaging of Integrated Circuits and Batteries
Dit artikel beschrijft een hoogresolutie magnetische beeldvormingssysteem op basis van een optisch gepompte magnetometer met een FID-configuratie en een twee-assige scannende micromirror, dat sub-pikotesla gevoeligheid en een korte werkafstand mogelijk maakt voor het niet-invasief diagnosticeren van geïntegreerde schakelingen en batterijen.