K-shell ionization and characteristic x-ray radiation by high-energy electrons and positrons in oriented silicon crystals
Dit artikel beschrijft een nieuwe computersimulatiemethode om de niet-monotone evolutie van karakteristieke röntgenstraling door K-schil-ionisatie van hoge-energetische elektronen en positronen in georiënteerde siliciumkristallen te analyseren, waarbij de invloed van de dekanaliseringsprocessen en de hoek- en energieafhankelijkheid worden onderzocht.