Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Dit artikel introduceert een cryogene widefield NV-diamant-microscoop die snelle, micrometer-resolutie imaging van magnetische fluxvanging in supergeleidende elektronica mogelijk maakt, waardoor nieuwe inzichten worden verkregen in de uitdrijving van vortices en defectinvloeden voor schaalbare toepassingen.