Boltzmann sampling with quantum annealers via fast Stein correction
Dit artikel introduceert een snelle, benaderende Stein-correctiemethode die gebruikmaakt van willekeurige feature maps en geëxponentieerde gradiëntupdates om nauwkeurige Boltzmann-steekproeven te mogelijk maken van D-Wave quantum-annealers bij willekeurige temperaturen, en biedt hiermee een levensvatbaar alternatief voor traditionele Markov-ket Monte Carlo-methoden.