Fabrication-free assessment of microwave losses in germanium-based dielectrics and superconductors
Dit artikel introduceert een fabricagevrije flip-chip detectietechniek om microgolfverliezen in germaniumgebaseerde diëlektrica en supergeleiders snel te evalueren, waarbij wordt onthuld dat door spanning gestuurde Ge/SiGe-heterostructuren veelbelovend zijn voor kwantumcircuits, terwijl ongewijzigde PtSiGe-films lijden onder hoge verliezen die aanzienlijk kunnen worden verminderd door ze te coaten met niobium.