Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
Este artigo introduz a Espectroscopia Dielétrica Transiente de Banda Larga Criogênica (BCTDS), uma nova técnica em nível de wafer que utiliza a dinâmica de fase transiente sob forte excitação de micro-ondas para caracterizar o comportamento dependente da frequência e os deslocamentos induzidos por ciclos térmicos de defeitos de sistemas de dois níveis (TLS) em dielétricos, oferecendo, assim, uma ferramenta poderosa para compreender as fontes de decoerência em circuitos quânticos supercondutores.