Rapid Autotuning of a SiGe Quantum Dot into the Single-Electron Regime with Machine Learning and RF-Reflectometry FPGA-Based Measurements
Este artigo apresenta um método de autotunagem rápida para pontos quânticos de SiGe, combinando um algoritmo baseado em redes neurais com medições de refletometria de RF aceleradas por FPGA, o que reduz o tempo de aquisição de diagramas de estabilidade em um fator de 9,8 e acelera a inicialização do dispositivo no regime de elétron único em 2,2 vezes.