An ultra-wide-bandgap semiconductor photodetector for linear measurement of bright sub-bandgap light
Este artigo demonstra que fotodetectores de AlN de sub-bandgap, projetados com designs de dopantes e estruturas de contato específicos para criar uma região de carga espacial estreita, alcançam respostas lineares e não saturadas à luz azul ultrabrilhante e a temperaturas elevadas ao alavancar a fotoresposta mediada por defeitos de nível profundo, permitindo, assim, a detecção confiável em ambientes industriais e aeroespaciais extremos.