Development of ultra-high efficiency soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy equipped with deep prior-based denoising method
Os pesquisadores desenvolveram um sistema de SX-ARPES de ultra-alta eficiência equipado com um método de remoção de ruído baseado em prioridade profunda, que reduz drasticamente o tempo de medição e melhora a relação sinal-ruído, permitindo a obtenção de dados estatisticamente precisos em cerca de 40 segundos para estudos da estrutura eletrônica tridimensional.