Mortality of ultra-thin LGADs and PiN diodes from high energy deposition
Este estudo investiga os mecanismos de dano permanente e mortalidade em diodos LGAD e PiN ultrafinos submetidos a altas deposições de energia de prótons e íons pesados, visando mitigar riscos como a queima por evento único e garantir a operação segura de detectores em ambientes de alta radiação.