Simultaneous SI-traceable measurement of the amplitude and the ellipticity of microwave fields with cold Rydberg atoms
Este artigo apresenta um método rastreável ao SI utilizando espectroscopia de perda de armadilha de átomos de Rydberg frios para medir simultaneamente a amplitude e a eliplicidade de um campo de micro-ondas com aproximadamente 1% de precisão, enquanto também extrai o ângulo de chegada do campo.