High-Resolution Atomic Magnetometer-Based Imaging of Integrated Circuits and Batteries
Este artigo apresenta um sistema de imageamento magnético de alta resolução baseado em um magnetômetro de bombeamento óptico (OPM) com configuração de dupla passagem e espelho de varredura, capaz de atingir sensibilidade sub-picotesla e resolução sub-milimétrica para diagnósticos não invasivos de circuitos integrados e baterias.