Dynamic thermal sensitivity of microwave cryogenic sapphire resonator
Este artigo revela que um efeito de memória causado pelo tempo de relaxação de impurezas de Cr3+ em ressonadores de safira criogênicos induz histerese e sensibilidade térmica dinâmica, o que degrada a estabilidade de frequência de osciladores ultra-estáveis ao criar um pico distinto no desvio de Allan em tempos de integração de 10 segundos.