MAS-CCD: New technique for measuring low-level charge content based on the multiple amplifier architecture
Este artigo apresenta uma nova técnica baseada em análise de covariância para medir com rapidez e precisão a carga espúria em detectores CCD de múltiplos amplificadores (MAS-CCD), superando as limitações dos métodos convencionais e facilitando a caracterização em larga escala desses sensores para instrumentos astronômicos de próxima geração.