Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Este artigo apresenta um microscópio magnético de campo amplo baseado em diamante com NV operando em criogenia, que permite a imagem rápida e de alta resolução de vórtices magnéticos em dispositivos supercondutores, revelando novos insights sobre a dinâmica de expulsão de vórtices e estratégias de mitigação para eletrônica supercondutora escalável.