AI-Driven Scan-to-Discovery in 20 Minutes: Automated Segmentation of Synchrotron Micro-CT at Scale
Este artigo apresenta um pipeline de HPC automatizado e impulsionado por IA que integra reconstrução tomográfica distribuída com modelos de fundação de conjunto (SAM3 e DINOv3-Seg) para alcançar uma segmentação de varredura para descoberta de quase tempo real, de 20 minutos, de dados de micro-CT de sincrotron, demonstrada através da análise de estruturas de xilema de videira.