Contributions of error correction and the spindle assembly checkpoint to mitotic timing and fidelity
该研究通过构建并验证粗粒度模型，揭示了染色体正确分离的概率取决于纺锤体组装检查点失效率与错误校正速率之比，并提出了通过有丝分裂时长变化来区分检查点缺陷与错误校正缺陷的简单判据，从而为理解有丝分裂时序与保真度提供了定量框架。
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biophysics
2 篇论文
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该研究通过构建并验证粗粒度模型，揭示了染色体正确分离的概率取决于纺锤体组装检查点失效率与错误校正速率之比，并提出了通过有丝分裂时长变化来区分检查点缺陷与错误校正缺陷的简单判据，从而为理解有丝分裂时序与保真度提供了定量框架。
本文介绍了紧凑型 ZenoTOF 8600 质谱系统，该系统通过集成 Zeno 阱增强 MS/MS、电子激活解离及扫描四极杆数据非依赖性采集（ZT Scan DIA）技术，在单细胞蛋白质组学、大规模高通量分析、低丰度靶向定量及翻译后修饰检测等方面实现了超高灵敏度与定量准确性，且其 ZT Scan DIA 模式在鉴定数量和定量重现性上均优于传统方法。