An Integrated Failure and Threat Mode and Effect Analysis (FTMEA) Framework with Quantified Cross-Domain Correlation Factors for Automotive Semiconductors
本文提出了一种针对汽车半导体的集成故障与威胁模式及影响分析(FTMEA)框架,通过引入基于专家知识、静态结构指标及注入实验验证的量化跨域关联因子,将功能安全与网络安全进行协同分析,从而更准确地识别和优先处理传统方法难以发现的跨域风险。