Field-Driven Hybrid Filament Formation Governs Switching in Ta-HfO-Pt Memristors
Diese Studie nutzt Molekulardynamiksimulationen mit dynamischem Ladungstransfer, um aufzudecken, dass der Schaltvorgang in Ta/HfO/Pt-Memristoren durch die feldgetriebene Bildung hybrider Filamente aus sowohl Ta-Kationen als auch Sauerstoffleerstellen gesteuert wird, und zeigt damit, wie anfängliche Defektkonfigurationen die Filamentmorphologie bestimmen, sowie ein robustes Rahmenwerk zur Verringerung der Bauelementvariabilität vor.