Mortality of ultra-thin LGADs and PiN diodes from high energy deposition
Die Studie untersucht die Mortalität und Zerstörungsmechanismen ultra-dünner LGADs und PiN-Dioden unter hochenergetischer Strahlung, um durch Tests mit verschiedenen Ionen und Vorbestrahlung das Verständnis von Single-Event-Burnout zu vertiefen und die sichere Betriebsweise zukünftiger Detektoren zu gewährleisten.