Multi-junction surface ion trap for quantum computing
Diese Arbeit präsentiert eine Multi-Junction-Oberflächenionenfalle, die darauf ausgelegt ist, Skalierungsprobleme zu adressieren, indem sie die HF-Elektrode anhebt und die darunter liegenden dielektrischen Schichten minimiert, um die ohmsche und dielektrische Verlustleistung signifikant zu reduzieren, während sie gleichzeitig die Heizraten über verschiedene Bewegungsfrequenzen und Spannungsquellen hinweg charakterisiert.