Imaging topological polar structures in marginally twisted 2D semiconductors
Este estudio utiliza microscopía de fuerza piezoeléctrica vectorial de alta resolución para demostrar experimentalmente la existencia de estructuras polares topológicas no triviales (merones y antimeroes) en bicapas de WSe₂ marginalmente retorcidas, permitiendo diferenciar entre superredes de moiré formadas por torsión o deformación heterogénea.